À propos
Les technologies à base de nitrure de gallium (GaN) sont au coeur du développement de l'éclairage moderne à LED.
Méthodologies d'analyse de la fiabilité de dispositifs à LED traite de l'état de l'art des technologies LED à base de GaN et se focalise principalement sur l'identification des phénomènes de dégradation. Il présente les outils et les analyses mises en oeuvre dans les études et applications de différents dispositifs à LED et offre une revue des différents mécanismes de défaillance utilisant les modèles électro-optiques.
L'identification et la cause de la défaillance sont abordées de manière très précise afin de donner au lecteur une méthodologie d'analyse efficace de dispositifs d'éclairage à LED. Cet ouvrage est donc basé sur des cas réels avec un modèle électrique et optique très fidèle mais relativement abordable.
Événements
Détails produits
Rayons : Sciences & Techniques > Sciences appliquées et industrie > Sciences physiques appliquées > Electricité / Electronique
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Auteur(s)
Raphael Baillot, Yannick Deshayes
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Éditeur
Iste
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Distributeur
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Date de parution
15/06/2017
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Collection
Electronique ; Serie Durabilite, Robustesse Et Fiabilite Des Dispositifs Photoniques
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EAN
9781784052799
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Disponibilité
Disponible
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Nombre de pages
236 Pages
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Support principal
Grand format
Infos supplémentaires : Broché
